物理实验

2020, v.40;No.362(10) 6-16

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X射线衍射在安检技术领域的研究进展
Research progress of X-ray diffraction in the field of security inspection

王新;李明涛;杨宝璐;徐捷;方恺;穆宝忠;

摘要(Abstract):

能量色散X射线衍射能够从分子结构上实现对晶体类违禁品的识别,因而成为解决安检领域违禁品精确查缉的新途径.本文简述了晶体的X射线衍射、角度色散(ADXRD)和能量色散(EDXRD)X射线衍射理论.围绕安检领域违禁品检测,介绍了能量色散X射线衍射的光学构型、特点及发展历程.分析能量色散X射线衍射安检技术在检测效率、技术难度及成本等方面遇到的问题与挑战,介绍了同济大学提出的复合式安检方案(对初检后存疑的物品进行EDXRD检测),并详细介绍了具体研发的螺旋阵列式EDXRD系统,实现了垂直方向的大范围探测,利用该系统对违禁品进行测试,检测准确率高达90%以上.

关键词(KeyWords): X射线衍射;能量色散;晶体结构;安检

Abstract:

Keywords:

基金项目(Foundation): 国家重点研发计划项目资助(No.2017YFA0403302,No.2017YFA0403304)

作者(Author): 王新;李明涛;杨宝璐;徐捷;方恺;穆宝忠;

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DOI: 10.19655/j.cnki.1005-4642.2020.10.001

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