物理实验

2002, (06) 3-6

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软X射线投影光刻技术及其发展(续)

金春水,曹健林

摘要(Abstract):

<正>为了提高反射率,软X射线投影光刻中使用的掩膜是制备在多层膜上的反射式掩膜,由于有微缩光学系统,它有相对较大的特征尺寸;同时由于它是制备在镀有多层膜的较结实基片上,使用中有能力避免软X射线照射引起的掩膜热变形,便于实现高精度的光刻复制。在反射式掩膜技术中,需要着重考虑的是掩膜缺陷修复和降低多层膜的损伤。

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作者(Author): 金春水,曹健林

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