外推法测定半导体材料的折射率Determining refractive index of semiconductor material by extrapolation method
夏辰安,宣昆,陆申龙,马秀芳
摘要(Abstract)：
利用半导体激光器 ,根据菲涅耳公式及折射定律 ,测量了部分半导体材料的复折射率的实数部分
关键词(KeyWords)： 复折射率;消光系数;半导体材料
基金项目(Foundation):
作者(Author): 夏辰安,宣昆,陆申龙,马秀芳
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DOI:
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