物理实验

2021, v.41;No.365(01) 33-37

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使用移测显微镜测量平行平板的折射率
Measuring the refractive index of parallel plate using travelling microscope

范海英;贾小文;贺秀良;尹霖;赵云飞;

摘要(Abstract):

依据折射定律,通过移测显微镜测量光线经平行平板产生的位移,确定平行平板的折射率.利用不确定度分析,给出入射角和平板厚度测量范围的建议,并分析了显微镜系统景深对平行平板厚度的限制.实际测量结果与利用阿贝折射仪的测量结果一致,该实验可作为基础物理实验中折射率测量相关实验项目的拓展.

关键词(KeyWords): 折射率;平行平板;移测显微镜

Abstract:

Keywords:

基金项目(Foundation):

作者(Author): 范海英;贾小文;贺秀良;尹霖;赵云飞;

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DOI: 10.19655/j.cnki.1005-4642.2021.01.006

参考文献(References):

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