物理实验

2021, v.41;No.365(01) 22-26

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椭偏法测量拓扑绝缘体的复折射率
Measuring the complex refractive index of topological insulators based on spectroscopic ellipsometry

陆华;李扬武;岳增记;曾为;

摘要(Abstract):

采用椭偏法测量了拓扑绝缘体Bi_2Te_3单晶的复折射率.运用经典的德鲁德和托克-洛伦兹模型分别对拓扑绝缘体的表面态和体态进行拟合,获得了其折射率和消光系数,并且分析了色散曲线的变化规律.实验结果表明:Bi_2Te_3拓扑绝缘体的体态具有类半导体特性(含带隙),折射率在近红外波段可达7以上;表面态具有类金属特性,厚度约为2.52nm.

关键词(KeyWords): 椭偏法;拓扑绝缘体;Bi_2Te_3;复折射率;消光系数

Abstract:

Keywords:

基金项目(Foundation): 国家自然科学基金项目(No.11974283,11774290,61705186);; 陕西省自然科学基础研究计划项目(No.2020JM-130)

作者(Author): 陆华;李扬武;岳增记;曾为;

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DOI: 10.19655/j.cnki.1005-4642.2021.01.004

参考文献(References):

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